● 高性能的Elstar電子束鏡筒結(jié)合UC+單色器的技術(shù)， 實現(xiàn)了亞納米級的SEM 和S/TEM圖像分辨率
● 杰出的低kV Phoenix離子束性能使TEM樣品制備時可以達到只有亞納米級的 損傷
● 可以通過多達5個集成束內(nèi)和透鏡下探測器獲得清晰的、精細的、免費的 對比圖像
● MultiChem氣體輸送系統(tǒng)為在雙光束平臺下電子和離子束誘導(dǎo)沉積和刻蝕 提供了最先進的技術(shù)支持。
● EasyLift EX 納米操 作手能夠精確的、定點的制備超薄TEM薄片，同時提高 了用戶的信任度和產(chǎn)量
● STEM 4 探測器在TEM薄片樣品上提供了出色的分辨率和對比度
● 來自Thermo Fisher Scientific 在雙光束應(yīng)用內(nèi)失效分析領(lǐng)域內(nèi)的世界級 的專業(yè)知識的支持
